1.4.2 Alpha Suite 单路至八路 alpha 谱仪 ORTEC 在 alpha 谱仪上采用超低本底和 PIPS 工艺（表面钝化、离子注入、可擦洗）硅探测器，同时真空舱室也为（超）低本底材料。面积上提供 300、450、490、600、900 和 1200mm2 的选择（对-MEGA 探测器直径可选至最大 3000mm2），有效耗尽层 100μ m。  关于Ultra-AS 探测器的详细信息，请参考本手册 35、36 页。
MEGA/DUO/Ensemble： Alpha-DUO 是一个完整的双路 alpha 谱仪，用于传统制样方法下 alpha 样品的分析；Alpha-MEGA 是一个完整的单路 alpha 谱仪，其形制大小等同于 Alpha-DUO，由于扩大了测量舱室并可采用最大3000mm2 的探测器，它的设计是用于直接测量最大 106mm 直径的滤纸滤膜样品。 Ensemble 是一个标准设计、可最多容纳四个或-DUO、或-MEGA、或其组合体的机箱。 -DUO 和-MEGA 既可以独立工作，也可以嵌入 Ensemble 主机中形成多路的 alpha 谱仪。 结构特性与性能指标： 探测器的面积可选 300 /450/490/600/900/1200 mm2；样品直径可从 13mm 至 51mm。探测器与被测样品之间有 10 档距离可选，相邻两档之间的距离差为 4mm, 最大距离可达 44mm。 数字化且每路独立的 MCA，一切参数由计算机控制。（Alpha Aria 由外面板控制真空） 真空计：范围 10mTorr 到 20Torr。 探测器偏压：范围 0±100V, 大小和正负极性可调节。漏电流检测器：范围 0 到 10,000nA，显示分辨率 3nA。 脉冲产生器；范围 0 到 10Mev，稳定性<50ppm/ºC ，脉冲的幅度可调。 数字化 MCA：通过软件可设置系统转换增益(道数)为 256、512、1024、 2048 或者 4096 道，细调增益为 0.25 到 1；增益稳定性: ≤150ppm/ºC；每个事件的转换时间(死时间)：<2 µs 。 数字化稳谱、ADC 的零点(ZERO)和下阈(LLD)均由计算机调节设置。谱仪的探测器偏压、漏电流均可在软件相关界面上以数字和图形显示出来。 输入电源：120/240 V ac, 50/60 Hz 输入功率 50W。 通讯：USB2.0 接口。每一个 Alpha Ensemble 最终提供一条电缆给PC。应用软件：MAESTRO-32 或 AlphaVision
Ensemble-8 尺寸：48.5cm W× 49.2cm D × 27.2cm H；净重：26.6 kg； 工作条件: 温度 0ºC 到 50ºC, 相对湿度 ≤ 95%。 分辨率与本底：基于使用 450mm2 ULTRA-AS 探测器和高质量的 241Am 点源，能量分辨率(FWHM):≤20KeV (探测器到源的距离等于探测器的直径)，探测器效率: ≥25% (探测器到源的距离小于 10mm)，本底：在 3MeV 以上, 每小时计数≤1。 另几款探测器的分辨率（@5.486MeV）： ENUS-490，FWHM): ≤ 22KeV； ENUS-600，FWHM): ≤ 24KeV； ENUS-900，FWHM): ≤ 29KeV； ENUS-1200，FWHM): ≤ 37KeV  Ensemble/DUO/MEGA 都已植入反冲抑制功能，只需配置反冲抑制 盘 RCAP-ST 即可实现该功能，从而尽可能避免探测器与舱室被 alpha 粒子沾污。
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